质子交换膜(PEM)电解水技术因其高效率、快速响应和绿色环保等优势,成为可再生能源制氢的核心手段之一。然而,PEM电解池内部的复杂电化学过程(如电荷转移、传质和欧姆损耗)会显著影响其性能。电化学交流阻抗谱(EIS)作为一种非破坏性、高分辨率的测试技术,能够解析这些过程的动力学特性,为优化电解池设计和操作条件提供关键依据。
EIS通过施加小幅正弦交流电压(或电流)扰动(通常频率范围0.1 Hz–100 kHz),测量系统的阻抗响应。通过分析阻抗谱的实部与虚部(Nyquist图或Bode图),可分离不同时间尺度的电化学过程:
高频区:反映欧姆阻抗(电解质/接触电阻);
中频区:表征电荷转移阻抗(电化学反应动力学);
低频区:体现传质阻抗(氢气/氧气扩散或气泡阻塞效应)。
PEM电解池的欧姆阻抗(包括膜电阻、电极与双极板接触电阻)直接影响能量效率。EIS高频截距可精确测定总欧姆电阻,指导以下优化:
膜厚度的选择(如Nafion系列);
电极与流场的接触压力设计;
运行温度(通过Arrhenius关系优化质子传导率)。
中频区的半圆特征对应析氢反应(HER)和析氧反应(OER)的活化阻抗。通过拟合等效电路(如Randles模型),可获取:
交换电流密度(j₀):评估催化剂本征活性;
双电层电容(C₄ₗ):反映电极有效表面积;
反应机理:区分速率控制步骤(如Tafel斜率分析)。
低频阻抗与反应物/产物的传质相关,尤其在高压或高电流密度下:
气泡阻塞效应:低频斜率的改变可量化气泡在电极表面的滞留影响;
质子迁移限制:低频容抗可能揭示膜脱水导致的质子传导率下降。
EIS可动态监测PEM电解池的衰减机制:
膜降解:高频欧姆阻抗上升提示膜化学老化或机械损伤;
催化剂失活:中频弧增大可能因IrO₂溶解或Pt烧结;
界面腐蚀:新出现的阻抗弧暗示双极板钝化层形成。
与传统极化曲线相比:EIS能分离欧姆/活化/传质损耗,而极化曲线仅提供总过电位;
与暂态技术相比:EIS的频率分辨能力可同时捕捉快(电荷转移)和慢(传质)过程;
无损特性:适合长期稳定性测试,避免频繁中断实验。
催化剂优化:通过EIS比较IrO₂与掺杂催化剂的电荷转移阻抗,验证Mn掺杂降低OER过电位的效果;
膜电极组件(MEA)设计:低频阻抗差异揭示薄化电极减少传质损耗的机制;
动态工况测试:EIS捕捉启停循环中气泡滞留导致的瞬时传质恶化。
高频限制:>100 kHz测试需消除电缆电感干扰;
数据拟合歧义:需结合DRT(弛豫时间分布)等数学方法减少等效电路多解性;
原位耦合技术:联用拉曼光谱或X射线成像实现多尺度表征。
EIS是PEM电解水研究中不可替代的工具,其多过程分辨能力为材料开发、结构设计和工况优化提供了深层机理认知。随着阻抗解析算法的进步(如机器学习辅助拟合),EIS将继续推动PEM电解技术向高效率、长寿命方向发展。
参考文献示例
[1] O. Schmidt et al., J. Power Sources (2017)
[2] Y. Bultel et al., Electrochim. Acta (2005)